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实验三 CMOS反相器瞬态特性

来源:小奈知识网
实验三 CMOS反相器瞬态特性 集成电路CAD 深圳大学电信学院微电子专业

实验三 CMOS反相器瞬态特性

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➢ CMOS反相器上升、下降及延迟时间

1. 为实验二中新建的CMOS反相器“inv”建立逻辑符号“symbol”“,check and save”没有error之后将其截屏粘贴复制到以下空白中:

2. 将实验二中的CMOS反相器的NMOS管和PMOS管参数都改成L=0.18um, W=0.48um。同时,在输出端接上C=2.2fF的负载电容,并将输入端的直流电压源“vdc”替换成脉冲电压源“vpulse”(从analogLib库里边取),其中脉冲电压源“vpulse”的参数含义如下图所示:

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实验三 CMOS反相器瞬态特性 集成电路CAD 深圳大学电信学院微电子专业 VRisetimeFalltimeDelaytimePulsewidthtPeriod 通常作为输入脉冲的上升时间和下降时间均为10ps,除此之外,其它参数可以自由设定(如Delay time = 10ns,Pulse width=20ns,Period=50ns),但要与最终总的瞬态仿真时间对应起来。 3. 将脉冲电压源vpulse的参数设置好以后,在模拟环境(Analog Environment)中选择运行瞬态仿真“tran”,只需给定总的仿真时间,然后选择plot输入与输出节点。在开始运行之前,可以预先估计一下会得到什么样的波形,然后与仿真后得到的波形相对比,并将仿真得到的波形截屏粘贴在以下空白处:

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4. 在波形窗口中,使用“Trace —> Delta cursor” 观察,比较并记录输出电压中对应的上升时间tr和下降时间tf(10%~90%)。思考:输出电压中的上升时间和下降时间分别是由哪个晶体管决定?在采取同样参数设计的情况下,为什么会存在着上升下降时间的不同?

上升时间由P管的尺寸决定,下降时间由N管的尺寸决定

由于导电因子迁移率不同,所以对称设计的上升下降时间不同

5. 参照讲义,观察并记录输出电压由高到低变化时对应的延迟时间tPHL和由低到高变

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化时对应的延迟时间tPLH,并计算总的延迟时间tpd

tPHI=21.724ps

tPLH=68.860ps

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tPD=45.292ps

6. 通过修改PMOS管和NMOS管的宽长尺寸,将输出电压中的上升时间和下降时间调到大致相等,记录优化后的两管宽长尺寸及其宽长比的比值(W/L)PMOS/(W/L)NMOS。将上述宽长比的比值与实验二中逻辑阈值等于0.9V时的宽长比的比值做比较,看它们是否一样?最后,将放大后带有“Delta cursor”的输入输出曲线上升和下降部分分别截屏并粘贴到以下空白处。

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tPHI-tPLH≈0.4ps

PMOS:180n 960n

NMOS:180n 240n

960:240≈4:1

与实验二的宽长比4:1相同

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