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半导体压阻式传感器及其操作方法[发明专利]

来源:小奈知识网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:半导体压阻式传感器及其操作方法专利类型:发明专利

发明人:谢协伸,张恒中,李政璋,梁朝睿,陈煌坤,邢泰刚申请号:CN200610005063.1申请日:20060117公开号:CN101005097A公开日:20070725

摘要:一种半导体压阻式传感器与一电路电性连接,半导体压阻式传感器包括一半导体基材、至少一压阻组件以及一导电材料层。半导体基材包括一悬膜与一基材,基材邻设于悬膜周缘;压阻组件设置于悬膜内,并与电路电性连接;导电材料层与悬膜电性连接。

申请人:台达电子工业股份有限公司

地址:中国台湾桃园县

国籍:CN

代理机构:北京市柳沈律师事务所

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