专利名称：基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方
法
专利类型：发明专利
发明人：林莉,张东辉,张树潇,赵天伟,罗忠兵,刘丽丽,谢雪,杨
会敏,李喜孟,严宇,陈春林
申请号：CN201310508087.9申请日：20131024公开号：CN103543208A公开日：20140129
摘要：一种基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法，属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套包括TOFD超声检测仪、集成TOFD操作软件的计算机、TOFD探头、扫查装置、校准试块及数字示波器构成的超声测试系统。针对TOFD检测中近表面区域进行扫查，对采集到的包含有缺陷信息的混叠时域信号进行频谱分析，读取幅度谱中谐振频率，结合材料纵波声速计算出直通波与缺陷上尖端衍射波声程差，进而确定近表面盲区内缺陷埋深。与其他减小近表面盲区深度的方法相比，该方法对硬件系统无额外要求，不受限于被检工件厚度，具有较好的工程应用价值。
申请人：大连理工大学,核工业工程研究设计有限公司
地址：116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号
国籍：CN
代理机构：大连星海专利事务所
代理人：花向阳
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