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锑基CMOS器件[发明专利]

来源:小奈知识网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:锑基CMOS器件专利类型:发明专利

发明人:S·达塔,J·卡瓦列罗斯,M·多齐,R·周,M·胡代特申请号:CN200780042525.X申请日:20071029公开号:CN101536167A公开日:20090916

摘要:一种可以具有NMOS和PMOS部分的III-V族材料CMOS器件,所述NMOS部分和PMOS部分的各层中的若干层基本相同。这使得可以容易地制造所述CMOS器件,并防止所述NMOS和PMOS部分之间的热膨胀系数失配。

申请人:英特尔公司

地址:美国加利福尼亚

国籍:US

代理机构:永新专利商标代理有限公司

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