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一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用[发明专利]

来源:小奈知识网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检

测中的应用

专利类型:发明专利

发明人:吴翟,郭佳文,赵智慧,吴恩平,贾诚,史志锋,李新建申请号:CN201910247192.9申请日:20190329公开号:CN109916516A公开日:20190621

摘要:本发明公开了一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用,是以二维二硒化钯纳米薄膜作为光敏感层,制作偏振敏感的光电探测器,实现对宽波段偏振光信号的探测。本发明以二维二硒化钯纳米薄膜制作的偏振敏感的光电探测器,对偏振光信号具有显著的响应,可以在复杂的电磁环境下对波长覆盖紫外‑可见‑红外的偏振光信号进行精确、稳定的探测。

申请人:郑州大学

地址:450001 河南省郑州市高新区科学大道100号

国籍:CN

代理机构:安徽省合肥新安专利代理有限责任公司

代理人:卢敏

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